专利名称: 单次纳米压印制作深纳米T型栅的方法
专利类别:
申请号: 200410009933.3
申请日期: 2004-12-02
专利号: CN1782879
第一发明人: 谢常青 范东升 刘 明
其它发明人:
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期:
缴费情况:
实施情况:
专利证书号:
专利摘要: 一种单次纳米压印制作纳米T型栅的方法,其工艺步骤如下:1.
在熔石英基片表面上淀积铬薄膜;2.在铬薄膜表面上甩电子束光刻胶,
电子束光刻宽栅槽图形;3.第一次各向异性刻蚀铬薄膜;4.第一次各向
异性刻蚀熔石英,被刻蚀的熔石英深度等于纳米T型栅所要求的总高度;
5.去除电子束光刻胶;6.甩电子束光刻胶,电子束光刻窄栅槽图形;7.
第二次各向异性刻蚀铬薄膜;8.第二次各向异性刻蚀熔石英,被刻蚀的
熔石英深度等于纳米T型栅所要求的底层窄栅槽图形高度;9.去除电子
束光刻胶;10.去除铬薄膜,完成倒T型纳米压印模的制作;11.在待
作纳米T型栅的片子表面甩纳米压印光刻胶,用倒T型纳米压印模对待
作纳米T型栅的片子进行压印;12.对压印后的片子进行氧等离子体灰
化;13.蒸发、剥离栅金属,完成纳米T型栅制作。
其它备注: