专利名称: 利用多层侧墙技术制备纳米压印模版的方法
专利类别:
申请号: 200510126492.X
申请日期: 2005-12-14
专利号: CN1982202
第一发明人: 涂德钰 王丛舜 刘 明
其它发明人:
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期:
缴费情况:
实施情况:
专利证书号:
专利摘要: 一种利用多层侧墙技术制备纳米压印模版的方法,其工艺步骤如
下:1.在透光基片上淀积一层结构薄膜;2.淀积另外一种材料作为第
二层结构薄膜;3.4.采用化学机械
平坦化或研磨等方法抛光基片表面,得到由第一种与第二种结构材料交
替组成的侧墙阵列;5.选择腐蚀或刻蚀两种结构材料的侧墙,形成纳米
压印模版。
其它备注: