当前位置 首页 科研工作 科研产出 专利
专利名称: 一种绝缘体上硅电路ESD全局保护结构
专利类别: 发明
申请号: 200810104230.7
申请日期: 2008-04-16
专利号:
第一发明人: 曾传滨, 海潮和, 李晶, 李多力, 韩郑生
其它发明人:
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期:
缴费情况:
实施情况:
专利证书号: ZL200810104230.7
专利摘要:
其它备注: 一室一组
中国科学院微电子研究所版权所有 邮编：100029
单位地址：北京市朝阳区北土城西路3号，电子邮件：webadmin@ime.ac.cn
京公网安备110402500036号，京ICP备05002781号-1