一种GaN HEMT器件的肖特基参数提取方法 --中国科学院微电子研究所

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专利名称:	一种GaN HEMT器件的肖特基参数提取方法
专利类别:	发明专利
申请号:	2009100924390
申请日期:	2009-09-08
专利号:	2009100924390
第一发明人:	王鑫华，赵妙，刘新宇
其它发明人:
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期:
缴费情况:
实施情况:
专利证书号:
专利摘要:
其它备注:

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