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专利名称: 一种测量GaN基器件热可靠性的方法
专利类别: 发明专利
申请号: 201110236600.4
申请日期: 2011-08-17
专利号:
第一发明人: 赵妙,刘新宇,罗卫军,郑英奎,陈晓娟,彭铭曾,李艳奎
其它发明人:
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期:
缴费情况:
实施情况:
专利证书号:
专利摘要:
其它备注:
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