一种分子尺度界面SiO2的形成和控制方法 --中国科学院微电子研究所

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专利名称:	一种分子尺度界面SiO2的形成和控制方法
专利类别:	发明专利
申请号:	201110375162.X
申请日期:	2011-11-23
专利号:
第一发明人:	徐秋霞，许高博
其它发明人:
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期:
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实施情况:
专利证书号:
专利摘要:
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