专利名称: 光电探测叠层、半导体此外探测器及其制造方法
专利类别: 发明专利
申请号: 201110164384.7
申请日期: 2011-06-17
专利号:
第一发明人: 殷华湘,陈大鹏
其它发明人:
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国外申请方式:
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实施情况:
专利证书号:
专利摘要:
其它备注: