专利名称: 一种AlGaN/GaN HEMT小信号参数提取方法
专利类别: 发明专利
申请号: 201010589028.5
申请日期: 2010-12-15
专利号: 201010589028.5
第一发明人: 蒲颜
实施情况: 授权
专利证书号: 201010589028.5
其它备注: 中国科学院微电子研究所