压控振荡器装置及压控振荡器的校正方法 --中国科学院微电子研究所

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专利名称:	压控振荡器装置及压控振荡器的校正方法
专利类别:	发明专利
申请号:	PCT/CN2011/080556
申请日期:	2011-10-09
专利号:	US8878615
第一发明人:	吴玉平
其它发明人:	吴玉平;陈岚
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期:
缴费情况:
实施情况:	授权
专利证书号:	US8878615
专利摘要:
其它备注:	中国科学院微电子研究所

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