计算晶圆表面研磨去除率的方法 --中国科学院微电子研究所

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专利名称:	计算晶圆表面研磨去除率的方法
专利类别:	发明专利
申请号:	201210458982.X
申请日期:	2012-11-14
专利号:	ZL201210458982.X
第一发明人:	徐勤志;方晶晶;陈岚
其它发明人:
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期:
缴费情况:
实施情况:	授权
专利证书号:
专利摘要:
其它备注:

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