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专利名称: 微纳尺度材料赛贝克系数测量机构的制备方法
专利类别: 发明专利
申请号: 201310002846.4
申请日期: 2013-01-05
专利号: 201310002846.4
第一发明人: 毛海央;欧文;欧毅;陈大鹏
其它发明人:
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期:
缴费情况:
实施情况: 授权
专利证书号:
专利摘要:
其它备注:
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