具有改善的载流子迁移率的场效应晶体管器件及其制造方法 --中国科学院微电子研究所

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专利名称:	具有改善的载流子迁移率的场效应晶体管器件及其制造方法
专利类别:	国际专利
申请号:	PCT/CN2010/074234
申请日期:	2010-06-22
专利号:	9,240,351
第一发明人:	朱慧珑;骆志炯;尹海洲
其它发明人:
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期:
缴费情况:
实施情况:	授权
专利证书号:	9,240,351
专利摘要:
其它备注:	十室