专利名称: 集成电路的测试装置
专利类别: 发明专利
申请号: 201210576911.X
申请日期: 2012-12-26
专利号: 201210576911.X
第一发明人: 谢朝辉;赵明琦;王德坤;刘海南;黑勇;周玉梅
其它发明人:
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期:
缴费情况:
实施情况: 授权
专利证书号: 201210576911.X
专利摘要:
其它备注: 硅器件中心