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专利名称: 一种SOI MOS器件闪烁噪声的测试设备及测试方法
专利类别: 发明专利
申请号: 201410031166.X
申请日期: 2014-01-23
专利号: 201410031166.X
第一发明人: 李书振;卜建辉;毕津顺;曾传滨;罗家俊;韩郑生
其它发明人:
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期:
缴费情况:
实施情况: 授权
专利证书号: 201410031166.X
专利摘要:
其它备注: 硅器件中心
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