专利名称: 存储器及其制作方法
专利类别:
申请号: 200910078245.5
申请日期: 2009-02-23
专利号: CN101494225
第一发明人: 刘 明 王 琴 胡 媛 郭婷婷
其它发明人:
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期:
缴费情况:
实施情况:
专利证书号:
专利摘要: 本发明公开了一种冠状势垒复合隧穿层的纳米晶浮栅非易失存储器,
包括:硅衬底,在硅衬底上重掺杂的源导电区和漏导电区,在源、漏导电
区之间的载流子沟道上覆盖的由高k材料介质/SiO2材料介质/高k材料介
质组成的复合隧穿层,在复合隧穿层上覆盖的纳米晶浮栅层、在纳米晶浮
栅层上覆盖的高k材料或SiO2材料控制栅介质层,和在控制栅介质层上覆
盖的栅材料层。同时公开了一种制作上述存储器的方法。利用本发明,综
合改善了浮栅非易失存储器的存储性能,提高了编程/擦除速度和耐受性、
数据保持特性,降低了编程/擦除电压和操作功耗,折衷了编程/擦除效率
和数据保持的矛盾,提高了集成度,并且制作工艺简单,降低了制作成本。
其它备注: