专利名称: | 单片集成增强/耗尽型GaAs MHEMT环形振荡器的制作方法 |
专利类别: | |
申请号: | 200810102205.5 |
申请日期: | 2008-03-19 |
专利号: | CN101540297 |
第一发明人: | 黎 明 张海英 徐静波 付晓君 |
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专利摘要: | 本发明公开了一种单片集成E/D GaAs MHEMT环形振荡器的制 作方法,包括:对源漏进行光刻,蒸发Ti/Pt/Au形成欧姆接触,实现 源漏的制备;采用湿法腐蚀形成隔离台面,采用分步栅工艺,挖栅槽, 分别蒸发Pt/Ti/Pt/Au和Ti/Pt/Au分步形成增强型栅极和耗尽型栅极, 实现栅极的制备;采用PECVD生长一层SiN介质,溅射NiCr合金制 作电阻;刻孔,蒸发一次布线金属,再长介质SiN,再进行光刻二次布 线Ti/Au;常规金属剥离形成金属图形。利用本发明,采用改良的E/D MHEMT工艺技术,制备出性能良好的MHEMT 9阶和15阶环型振荡 器,对E/D MHEMT制备工艺技术进行了验证,确保了内部器件特性 的测量更精确。 |
其它备注: | |
科研产出