专利名称: 绝缘体硅射频集成电路的集成结构及制作方法
专利类别:
申请号: 200410045979.0
申请日期: 2004-05-27
专利号: CN1705132
第一发明人: 杨 荣 李俊峰 徐秋霞 海潮和 韩郑生 周小茵 赵立新 牛洁斌 钱 鹤
其它发明人:
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期:
缴费情况:
实施情况:
专利证书号:
专利摘要: 一种用于绝缘体硅射频集成电路的集成结构,其中包括:一绝缘体
硅衬底,包括单晶硅层、隔离氧化层和硅薄层;场氧化层采用局域场氧
化隔离技术形成在硅薄层里与隔离氧化层相连,以阻断器件漏电;栅氧
化层是在硅薄层表面氧化形成;多晶硅层是在栅氧化层上淀积形成的;
氮化硅层形成在多晶硅层的周围;二硅化钛薄层以点状分布在硅薄层上;
第一层铝薄膜形成在二硅化钛薄层上;一二氧化硅层形成在场氧化层、
多晶硅层、氮化硅层、二硅化钛薄层和第一层铝薄膜上;部分第一层铝
薄膜镶嵌在二氧化硅层中;第二层铝薄膜与第一层铝薄膜局部相连,并
形成于二氧化硅层上。
其它备注: