功率半导体器件热阻测试装置 --中国科学院微电子研究所

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专利名称:	功率半导体器件热阻测试装置
专利类别:	实用新型
申请号:	201320379046.X
申请日期:	2013-06-28
专利号:	201320379046.X
第一发明人:	温景超
其它发明人:	温景超;王立新;陆江
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期:
缴费情况:
实施情况:	授权
专利证书号:	201320379046.X
专利摘要:
其它备注:	中国科学院微电子研究所

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