专利名称 | 发明人 | 申请号 | 申请日期 |
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半导体器件及其制造方法 | 尹海洲,朱慧珑,骆志炯; | PCT/CN2011/001314 | 2011-08-09 |
层间电介质的近界面平坦化回刻方法 | 孟令款,殷华湘; | PCT/CN2011/001326 | 2011-08-10 |
一种晶体管和半导体器件及其制作方法 | 闫江,赵利川; | PCT/CN2011/001315 | 2011-08-09 |
防止积留水液的热氧化系统和方法 | 李春龙; | PCT/CN2011/001316 | 2011-08-09 |
用于保持热预算稳定的加热方法 | 李春龙; | PCT/CN2011/001313 | 2011-08-09 |
半导体器件及其制造方法 | 梁擎擎,朱慧珑,钟汇才; | PCT/CN2011/001308 | 2011-08-09 |
一种晶体管及其制作方法和包括该晶体管的半导体芯片 | 尹海洲,罗军, 朱慧珑,骆志炯; | PCT/CN2011/001309 | 2011-08-09 |
一种制作晶体管和半导体器件的方法 | 尹海洲,骆志炯,朱慧珑; | PCT/CN2011/001317 | 2011-08-09 |
提高后栅工程金属插塞化学机械平坦化工艺均匀性的方法 | 杨涛,赵超,李俊峰; | PCT/CN2011/000692 | 2011-04-20 |
半导体器件及其制造方法 | 罗军,赵超; | PCT/CN2011/000712 | 2011-04-22 |
半导体器件及其制造方法 | 罗军,赵超; | PCT/CN2011/000711 | 2011-04-22 |
一种石墨烯器件及其制造方法 | 梁擎擎,金智,王文武,钟汇才,刘新宇,朱慧珑; | PCT/CN2011/000291 | 2011-02-24 |
3D集成电路结构以及检测芯片结构是否对齐的方法 | 朱慧珑; | PCT/CN2011/000281 | 2011-02-23 |
半导体结构及其制造方法 | 朱慧珑; | PCT/CN2011/000290 | 2011-02-24 |
晶体管及其制造方法 | 梁擎擎,钟汇才,朱慧珑; | PCT/CN2011/000307 | 2011-02-25 |
科研产出