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专利

专利名称 发明人 申请号 申请日期
向沟道中引入应变的方法和使用该方法制作的器件 殷华湘,徐秋霞,陈大鹏; PCT/CN2011/000694 2011-04-20
半导体器件结构的制造方法及其结构 钟汇才, 梁擎擎; PCT/CN2011/000306 2011-02-25
半导体器件结构及其制造方法 钟汇才, 梁擎擎; PCT/CN2011/000308 2011-02-25
一种半导体器件及其形成方法 赵超,王文武,朱慧珑; PCT/CN2011/000279 2011-02-23
一种半导体器件及其形成方法 朱慧珑,梁擎擎; PCT/CN2011/000337 2011-03-02
一种半导体器件及其形成方法 朱慧珑,梁擎擎; PCT/CN2011/000336 2011-03-02
一种半导体器件及其形成方法 朱慧珑,梁擎擎,骆志炯,尹海洲; PCT/CN2011/000338 2011-03-02
晶体管及其制造方法 尹海洲,朱慧珑,骆志炯; PCT/CN2011/000263 2011-02-21
晶体管及其制造方法 尹海洲,骆志炯,朱慧珑; PCT/CN2011/000280 2011-02-23
晶体管及其制造方法 尹海洲,朱慧珑,骆志炯; PCT/CN2011/000262 2011-02-21
可调节沟道应力的器件与方法 殷华湘,徐秋霞,陈大鹏; PCT/CN2011/000278 2011-02-23
采用后栅工艺制备CMOS器件中接触孔的方法 闫江; PCT/CN2011/000261 2011-02-21
用于集成电路的衬底及其形成方法 钟汇才, 梁擎擎, 尹海洲, 骆志炯; PCT/CN2011/000309 2011-02-25
晶体管及其制造方法 尹海洲,骆志炯,朱慧珑; PCT/CN2011/000292 2011-02-24
一种互补型金属氧化物半导体场效应晶体管的制备方法 徐秋霞,李永亮,许高博; PCT/CN2011/082585 2011-11-22