专利名称 | 发明人 | 申请号 | 申请日期 |
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IGBT器件及其制作方法 | 滕渊;吴振兴;朱阳军;卢烁今;赵佳;田晓丽;左小珍; | 201110175526.X | 2011-06-27 |
绝缘栅双极晶体管及其制作方法 | 滕渊;左小珍;朱阳军;卢烁今;吴振兴;赵佳; | 201110201384.X | 2011-07-18 |
IGBT器件及其制作方法 | 滕渊;朱阳军;卢烁今;孙宝刚; | 201110175569.8 | 2011-06-27 |
沟槽栅型绝缘栅双极晶体管及其制作方法 | 赵佳;朱阳军;卢烁今;孙宝刚;左小珍; | 201110168499.3 | 2011-06-21 |
快恢复二极管制造方法 | 田晓丽;吴振兴;孙宝刚;朱阳军;赵佳;卢烁今; | 201110163951.7 | 2011-06-17 |
绝缘栅双极晶体管及其制作方法 | 卢烁今;朱阳军;孙宝刚;赵佳; | 201110169311.7 | 2011-06-22 |
微穿通型IGBT器件及其制作方法 | 田晓丽;朱阳军;孙宝刚;卢烁今; | 201110175567.9 | 2011-06-27 |
结终端延伸结构及其制造方法 | 田晓丽;朱阳军;吴振兴;卢烁今; | 201110166489.6 | 2011-06-20 |
绝缘栅双极晶体管终端及其制作方法 | 田晓丽;朱阳军;卢烁今;吴振兴; | 201110175527.4 | 2011-06-27 |
一种无线收发装置 | 张海英;王小松;李志强; | 201310030366.9 | 2013-01-25 |
单粒子脉冲宽度测量电路 | 宿晓慧;毕津顺; | 201110319780.2 | 2011-10-20 |
存储单元测试电路及其测试方法 | 王一奇;韩郑生;赵发展;刘梦新;毕津顺; | 201110208077.4 | 2011-07-25 |
多流向元胞集成的LDMOS功率器件 | 姜一波;杜寰; | 201110187985.X | 2011-07-06 |
防止钝化层过刻蚀的方法 | 李博;申华军;白云;唐益丹;刘焕明; | 201110284796.4 | 2011-09-23 |
一种半导体芯片封装结构 | 李宝霞;万里兮; | 201110175505.8 | 2011-06-27 |
科研产出