| 论文编号: | 1725110120160110 |
| 第一作者所在部门: | |
| 论文题目: | Remote interfacial dipole scattering on electron mobility degradation in Ge field-effect-transistor with GeOx/Al2O3 gate dielectrics |
| 论文题目英文: | |
| 作者: | 王晓磊 |
| 论文出处: | |
| 刊物名称: | J.Phys. D |
| 年: | 2016 |
| 卷: | |
| 期: | 49 |
| 页: | 1 |
| 联系作者: | 王文武 |
| 收录类别: | |
| 影响因子: | |
| 摘要: | |
| 英文摘要: | |
| 外单位作者单位: | |
| 备注: | |
科研产出