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  • 姓名: 王颖
  • 性别: 女
  • 职称: 研究员
  • 职务: 
  • 学历: 博士
  • 电话: 13522044590
  • 传真: 
  • 电子邮件: wangying1@ime.ac.cn
  • 所属部门: 光电技术研发中心
  • 通讯地址: 北京市朝阳区北土城西路3号

    简  历:

  • 教育背景

    2001.09.-2006.03,北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院,获博士学位; 

    1987.09-1991.07,天津大学化学工程系,获学士学位; 

    工作简历 

    2018.08-今,中国科学院微电子研究所,研究员; 

    2015.12-2016.12,美国约翰霍普金斯大学,访问学者; 

    2006.04-2018.07,北京化工大学,副教授; 

    1991.07-2001.09,渤海(天津)化工集团,工程师。


    社会任职:

  • 九三学社第十五届中央委员会科普工作委员会委员;

    全国光电测量标准化技术委员会委员;

    教育部学位论文中心论文评审专家。

    研究方向:

  • 机器视觉检测技术,缺陷在线视觉检测系统设计及开发、数字图像及模式识别,目标识别和跟踪,深度学习、光电精密测试等。 

    承担科研项目情况:

  • 1、科技部重点研发计划项目“汽车关键部件装配缺陷视觉检测仪”,课题负责人,2019年7月-2022年6月; 

    2、中国科学院院级STS项目“服装面料瑕疵视觉检测及示范应用” 项目负责人,2020年1月-2021年12月。 

    3、新疆计量测试研究院合作项目“基于视觉的数字压力计自动校准装置”, 项目负责人,2023年1月-2024年12月。 

    代表论著:

  • 1.基于长冲程振动台导轨弯曲校正的低频振动传感器校准方法[J].振动与冲击(EI),Vol.41(1), 2022,通讯作者 

    2.A monocular vision-based decoupling measurement method for plane motion orbits [J]. Measurement (SCI), 187(2022)110312,第2作者 

    3.Monocular vision-based calibration method for the axial and transverse sensitivities of low frequency tri-axial vibration sensors with the elliptical orbit excitation[J] IEEE Transactions on Industrial Electronics (SCI),Vol.21(4),2021,第4作者 

    4.Binocular vision-based method used for determining the static and dynamic parameters of the long-stroke shakers in low- frequency vibration calibration [J]. IEEE Transactions on Industrial Electronics (SCI), DOI 10.1109/TIE.2022.3208559,2022,第5作者 

    5.融合先验知识特征的超声图像甲状旁腺结节识别[J],电子学报(EI),Vol.49(5),2021,通讯作者 

    6. Monocular vision-based calibration method for determining the frequency characteristics of low frequency accelerometer [J]. IEEE Sensors Journal (SCI), Vol.21(4),2021,通讯作者 

    7. Automatic recognition of parathyroid nodules in ultrasound images based on fused prior pathological knowledge features [J](SCI),DOI: 10.1109/ACCESS.2021.3075226,2021,通讯作者 

    专利申请:

  • 1.一种高精度的摄像机动态标定方法,北京化工大学,ZL 2016 1 0918342.0,中国发明专利,第1发明人 

    2.一种基于局部特征和词袋模型人体动作识别过程的关键帧选取方法,北京化工大学,ZL 2017 1 0329538.0,中国发明专利,第1发明人 

    3.瑕疵采集装置,中国科学院微电子研究所,CN213482082U,实用新型专利,第3发明人 

     

     

    获奖及荣誉: