| 专利名称: | 一种氮化氧化膜的制备方法 |
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| 申请号: | 02147232.7 |
| 申请日期: | 2002-10-18 |
| 专利号: | CN1404113 |
| 第一发明人: | 徐秋霞 侯瑞兵 高文方 韩郑生 |
| 其它发明人: | |
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| 专利摘要: | 一种氮化氧化膜的制备方法,将氮离子注入到硅衬底中再氧化。步骤为:在完成隔离的硅片上清洗后生长注前氧化膜,然后对有源区进行14N+注入;漂净注前氧化膜;清洗后用HF/IPA/H2O室温下浸泡,去离子水冲洗,甩干立即进炉;大流量N2保护下550℃进舟,慢推,大流量N2保护;升温至700-900℃,N2恒温;同一温度下,N2/O2=5∶1气氛氧化,氧化时间1-120分钟;N2气氛,700-900℃退火,15-60分钟;N2保护下降温至550℃,再在大流量N2保护下慢拉出舟;化学汽相沉积(LPCVD)多晶硅:温度620℃,压力0.2乇,SiH4200sccm,Ar800sccm。 |
| 其它备注: | |
科研产出