专利名称: 一种利用反射光谱测量单晶硅基太阳能表面薄膜的方法及系统
专利类别: 发明专利
申请号: 201210281822.2
申请日期: 2012-08-09
专利号: 201210281822.2
第一发明人: 刘涛;王林梓;李国光;夏洋;Edgar Genio;马铁中
实施情况: 授权
专利证书号: 201210281822.2
其它备注: 八室一组