6月13日，微电子所团委举办“岗位大练兵”系列报告会，邀请IEEE会士、美国爱荷华州立大学电气和计算机工程讲座教授陈德刚作了题为《用于模拟集成电路故障覆盖以及高分辨率ADC快速准确测试的片上高效自测试技术》的学术报告。微电子所职工、研究生近40人参加了报告会。报告会由所团委副书记王鑫华主持。
陈德刚指出，随着半导体技术向5G和物联网时代的发展，模拟和混合信号功能变得越来越重要，模拟和混合信号功能的性能决定了整个系统的最终性能。陈德刚介绍了基本模拟设计、验证、测试和校准技术的相关技术趋势和最新进展，分别讲解了一种基于超小型和高线性温度传感器，并对电源、散热和可靠性管理产生重要影响的技术，一种基于图形、可以显著提高模拟故障覆盖仿真和验证时间效率的技术，以及用于高分辨率数据转换器的超快速和精确线性度测试技术，并演示了一种高效的超纯正弦波生成方法，该方法能够在24位及更高位进行精确的模拟数字转换器（ADC）频谱测试。与会人员就相关技术问题与陈德刚进行了探讨和交流。
陈德刚长期从事模拟和混合信号IC设计和测试、集成传感器设计、模拟电路验证和内置自测试及自校准等领域的研究，在主要期刊和顶级国际会议上撰写并共同撰写了10项专利和280多篇论文，获评IEEE仪器和测量学会杰出讲师。
报告会现场
综合信息