6月13日,微电子所召开会议,针对牵头编制的电子行业标准《薄膜铌酸锂光电调制器芯片测试方法》征求专家意见。
微电子所副所长罗军、全国集成电路标准化技术委员会秘书张秋及部分委员、中国电子技术标准化研究院、华中科技大学、中国科学院半导体研究所、武汉光迅科技股份有限公司等产学研用单位专家和所内相关人员参加了会议。
罗军对标委会委员及专家的到来表示欢迎,并介绍了微电子所标准化工作开展情况。标准编制组报告了标准编制情况、征求意见情况、征求意见处理情况。与会专家们围绕标准内容、标准编制说明、征求意见处理情况进行了充分讨论,从各自专业角度提出了意见建议。张秋对标准编制工作给予了充分肯定,要求标准编制组按照会议讨论意见认真完善标准文本、编制说明以及意见汇总处理表,进一步提高编制质量。
本次会议通过广泛征求意见建议,有效提升了标准的科学性和规范性,为按期完成编制工作奠定了坚实基础。
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